Digital Micromirror Deviceを用いたプロジェクタにより，背景画像を高速で変更しながら背景指向シュリーレン法による計測を行い，単一ピクセル相関法により背景パターンの移動量を1ピクセル解像度で計算することで，高解像度の時系列密度場計測を実現しました．

本研究は早稲田大学理工学術院の松田佑准教授と共同で実施されました．

Single-pixel correlation applied to background-oriented schlieren measurement

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